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반도체, 디스플레이 검사 / 측정장비
박막두께 측정기
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독자적인 기술로 최고의 품질을 자랑하는 VAOSS입니다.
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반도체, 디스플레이 검사 / 측정장비
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반도체, 디스플레이 검사 / 측정장비
나노 박막 두께측정
제품특징
Nano pattern shape
박막 두께측정
굴절율
표면 Roughness
제품 기술사양
파장범위
RGB/whith light(선택가능)
재 현생
< 0.1nm
측정방식
line scan
Line size
200mm(선택)
Line resolution > 1000
Stage size
선택 가능
측정 범위
200um X 200um